ICトレイ外観検査

📥事例:AIによる

ICトレイの精密外観検査

1. 従来の検査が抱える課題

ICトレイは、半導体チップ(IC)を製造工程や輸送中に

安全に保護・保持するための「入れ物」です。

このトレイにわずかな破損異物があると、

収納されている高価なICチップにキズをつけたり、

製造装置が正常に作動しなくなったりする

重大なリスクがあります。

 

従来の検査では、以下のような課題がありました。

 

Ⅰ.欠陥の検出漏れ: 多数のICトレイを高速で目視検査する際、小さな衝突傷異物を見逃すリスクがありました。

Ⅱ.非効率性: 検査に時間がかかるため、生産ライン全体の効率が低下していました。

Ⅲ.人的要因: 検査員の疲労熟練度によって、検出の精度や判断にバラつきが生じていました。

 

私たちは、この課題を解決するため、AI画像認識技術を導入し、検査の効率と精度を飛躍的に向上させました。

2. AIが実現する

「効率的」かつ「高精度」な検出

AIを活用したシステムは、ICトレイの外観を人間よりも遥かに

迅速かつ高精度に検査し、不良品の流出を未然に防ぎます。

AI検査の仕組み

1. 迅速な欠陥の特定

AIは、カメラが捉えたICトレイの画像を一瞬で分析します。

人間の目では見逃しがちなわずかな違いも、AIは逃しません。

システムは、トレイのどこに問題があるのかを正確に特定します。

2. 様々な欠陥の分類と記録

このシステムは、単に「不良」と判断するだけでなく、

検出された欠陥を細かく分類し、記録できます。

3. 人的ミスの大幅な削減

AIは常に一定の基準で検査を行うため、

検査員の疲労や主観による判断ミス大幅に削減します。

これにより、検査品質の均一性が保たれ、製品の信頼性が向上します。

 

ICトレイ外観検査
テスト結果

AI画像認識技術の導入は、

ICトレイの検査を「速く、正確に、そして安定して」

行うことを可能にし、半導体製造の土台となる安全性を支えています。

私たちは、このAI技術を通じて、

お客様の製造品質と生産効率の向上に貢献してまいります。

 

このAI検査システムについて、貴社の特定のICトレイへの適用可能性など、

詳細なご相談がございましたら、

お気軽にお問い合わせください。