ICトレイ外観検査

ICトレイ外観検

AI画像認識技術によりICトレイの外観を効率的かつ高精度に検出します。このシステムは、破損、部分欠陥、衝突傷、異物などの様々な外観上の欠陥を迅速に特定し、分類して記録できます。これにより、検出効率を向上させ、人的要因による検出ミスも大幅に削減します。

ICトレイ外観検査
テスト結果